Un equipo de investigación ha logrado utilizar ondas terahertz para examinar el funcionamiento interno de transistores en operación. Esta técnica podría potencialmente permitir la lectura de datos almacenados en chips, según lo reportado por IEEE Spectrum. Los investigadores, que provienen de universidades en Australia, Alemania y EE. UU., han centrado su estudio en dispositivos semiconductores empaquetados dentro del espectro electromagnético de baja/sub-terahertz.
Mediante un método llamado detección homodina, el grupo ha podido observar comportamientos esperados de componentes electrónicos como el diodo 1N4007 y el transistor BC548B durante su funcionamiento. Esta observación es algo que los métodos típicos de detección terahertz no pueden lograr, según Daniel Mittleman, profesor de ingeniería en Brown University.
El líder de la investigación, Withawat Withayachumnankul de la Universidad de Adelaide, indicó que esta tecnología, una vez perfeccionada, podría ser útil para verificar el funcionamiento de componentes electrónicos en sistemas de entrega de energía sin necesidad de apagarlos. A pesar de las limitaciones actuales, los investigadores están motivados a superar los obstáculos que presenta el estudio de chips con múltiples capas y conexiones de cobre.